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各位前輩您好,
小弟有一個問題是關於Life time的事情
通常HTSL實驗是150C 1000hrs , 假如Ea為0.9 eV 的話, 假如產品最高溫度是操作在85C
這樣HTSL 150C 1000hrs pass,從Arrhenius推算這樣的stress pass,在85C上操作Life time 為10年
假如產品操作溫度變為125C,為了life time也有10年,所以我可以用wafer level 溫度加到225C,
1000hrs pass 也可以達到10年,
可是HTOL我該怎評估呢? 因為HTOL我只能用package來做,溫度最多只能到150C,那我stress的時間
又不想超過1000hrs,那我該怎如何設計實驗?
還是說HTOL看的failure mode 是不一樣的,HTSL是確認本身產品的基本的lifetime
那HTOL的stress是誘發有關於oxide的缺陷,那只要經過1000hrs這樣的條件stress 如果還pass
那是不是代表沒有一些元件的缺陷存在,那是否也代表這產品經由這2種條件桔果來看再正常的操作下
life time 應該是有10年的呢? 不知這樣可不可以說的通呢?
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發表於 2013-5-16 21:53:28
