睿地可靠度論壇（TW-REDI Forum）

標題: 測試階段失效率的估算問題 [打印本頁]

作者: Astro_tsai 時間: 2012-2-2 10:55:48 標題: 測試階段失效率的估算問題

請教各位大大...

一般的可靠度測試時都是取適量的sample 然後做同樣的測試(ex. 溫濕度循環,震動...etc)
然後才依照實驗結果換算失效率...
由於一般產品測試中各項測試的sample 量均不多
那是否可以將範圍擴大為DVT(PVT)階段內的各項測試sample當成母群體? 將各項測試的失效記錄來換算失效率?

有怎樣的顧慮或者需要注意的事項?

作者: function 時間: 2012-2-2 19:08:34

我認為當然可以，
只要注意不同試驗規格的等效性即可。
但是，如果DVT階段有做過設計變更可能就比較複雜了，這種狀況下或許要考慮利用可靠度成長的方式來評估。

作者: temp30 時間: 2012-2-3 09:30:09

可靠度測試Sample數量不足，的確是大家都會遇到的的痛，相對也就必須用累積測試的結果來做統計，除了老師所建議須評估試驗規格的等效性，以下有兩點提供分享
1. 勿輕易忽視每個失效: 因為測試sample量少，有時發生的異常是偶發性並未是常態性的，所以常會被看成是個案發生(因為非量產sample)或是再用同偶發失效sample在測試一次來做評估，可能忽略掉的異常有可能就是未來市場會發生隱藏性失效
2. DVT or PVT 每個階段的測試結果皆都是要進入下一個階段的評估點，因為測試成本考量而不得已需要合併來做評估，如果失效發生是發生在PVT且可能需要進行設計修改時，勢必產品市場上市時間有所衝突(訂單需求)，這時的判定(失效的影響程度)及相對應的上市決策一定要達到一個平衡點(並非每個失效都重大，也並非訂單出貨為重)，切勿只著重單一方

作者: Astro_tsai 時間: 2012-2-3 11:02:13

temp30 發表於 2012-2-3 09:30
可靠度測試Sample數量不足，的確是大家都會遇到的的痛，相對也就必須用累積測試的結果來做統計，除了老師所 ...

非常認同王兄的看法,
畢竟sample 量太少, 如果還發生常態性失效, 那是非常嚴重的設計失誤...
目前3C產品的"壽命"太短, 搶上市是一個很重要的點, trade-off 是一個key...

另外許老師提到的等效性, 是否可以理解為"如果同樣是溫濕度的測試, ex. H/L temp cycle, Humidity., 可以將其劃分為同一群組", 或者是以每一個失效樣品的失效模式來劃分群組？還是有其他作法?

作者: hlperng 時間: 2012-2-3 19:24:01

temp30 發表於 2012-2-3 09:30
可靠度測試Sample數量不足，的確是大家都會遇到的的痛，相對也就必須用累積測試的結果來做統計，除了老師所 ...

原則上只有環境試驗及壽命試驗，沒有可靠度試驗。可靠度是分析計算得到的，有功能(決定失效與否)、有應力資料、有時間資料，有數學模型(公式)，就可以計算結果。至於統計，應該放在工程判斷之後。

歡迎光臨睿地可靠度論壇（TW-REDI Forum） (http://60-251-32-214.hinet-ip.hinet.net/)